防詐3要訣：不聽信、不操作、掛斷電話 
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★可重用驗證環境 - 建立靈活且高效的UVM架構。
☆DUT連接方法 - 高效連接待測設計與測試平臺。
★快速配置傳遞 - 簡化測試平臺中的配置管理。
☆DUT連接方法 - 高效連接待測設計與測試平臺。
★快速配置傳遞 - 簡化測試平臺中的配置管理。
內容簡介
https://youtu.be/cqW5rFcacQA
★可重用驗證環境 - 建立靈活且高效的UVM架構。
☆DUT連接方法 - 高效連接待測設計與測試平臺。
★快速配置傳遞 - 簡化測試平臺中的配置管理。
☆Reactive Slave驗證 - 提升驗證的靈活性與可靠性。
★激勵控制技術 - 提供多種激勵應用方法。
☆記分板實現 - 快速建立有效的測試評估機制。
★訊號監測控制 - 監測與控制RTL和DUT內部訊號。
☆驗證整合優化 - 改進驗證平臺與設計的連接。
★錯誤注入測試 - 提升測試完整性與穩定性。
☆事務級數據追蹤 - 高效偵錯與Layered Protocol驗證。
★暫存器建模技術 - 涵蓋動態映射、突發存取等方法。
☆驗證加速技術 - 利用DPI與硬體模擬提升效能。
本書介紹UVM驗證環境的架構與應用，第1章說明可重用環境的設計概念，第2至4章探討DUT與測試平臺的連接方式，第5章介紹配置物件的快速配置與傳遞，第6章說明Reactive Slave驗證方法，第7至8章講解激勵控制機制，第9至10章探討記分板的快速實作，第11至12章介紹RTL與DUT內部訊號的監測與控制，第13章說明設計參數傳遞方法，第14章探討驗證平臺與設計整合，第15至16章解析事務級數據追蹤與Layered Protocol驗證，第17章介紹VIP的存取者模式，第18章講解UVM目標phase的額外等待機制，第19章探討模擬結束機制，第20章說明記分板與斷言檢查的結合，第21至22章介紹錯誤注入與ECC測試，第23章探討列舉型態變數應用，第24至25章說明UVM的SVA封裝與控制，第26至28章介紹晶片重置測試，第29至30章講解參數化類別壓縮與中斷處理，第31至32章探討提升覆蓋率與可重用方法，第33至36章介紹隨機約束技術，第37至40章解析暫存器建模，第41至44章說明UVM儲存建模與覆蓋率統計，第45至47章探討C語言存取、建模可讀性與後門存取，第48章介紹程式倉庫管理，第49至50章說明DPI與硬體模擬加速技術。
目標讀者
►具備一定基礎的相關專業的在校大學生。
►相關領域的技術工程人員。
產品目錄
▌第1章 可重用的UVM 驗證環境
1.1 背景技術方案及缺陷
1.1.1 現有方案
1.1.2 主要缺陷
1.2 解決的技術問題
1.3 提供的技術方案
1.3.1 結構
1.3.2 原理
1.3.3 優點
1.3.4 具體步驟
▌第2章 interface 快速宣告、連接和配置傳遞的方法
2.1 背景技術方案及缺陷
2.1.1 現有方案
2.1.2 主要缺陷
2.2 解決的技術問題
2.3 提供的技術方案
2.3.1 結構
2.3.2 原理
2.3.3 優點
2.3.4 具體步驟
▌第3章 在可重用驗證環境中連接interface 的方法
3.1 背景技術方案及缺陷
3.1.1 現有方案
3.1.2 主要缺陷
3.2 解決的技術問題
3.3 提供的技術方案
3.3.1 結構
3.3.2 原理
3.3.3 優點
3.3.4 具體步驟
▌第4章 支援結構通訊埠資料型態的連接interface 的方法
4.1 背景技術方案及缺陷
4.1.1 現有方案
4.1.2 主要缺陷
4.2 解決的技術問題
4.3 提供的技術方案
4.3.1 結構
4.3.2 原理
4.3.3 優點
4.3.4 具體步驟
▌第5章 快速配置和傳遞驗證環境中配置物件的方法
5.1 背景技術方案及缺陷
5.1.1 現有方案
5.1.2 主要缺陷
5.2 解決的技術問題
5.3 提供的技術方案
5.3.1 結構
5.3.2 原理
5.3.3 優點
5.3.4 具體步驟
▌第6章 對採用reactive slave 方式驗證的改進方法
6.1 背景技術方案及缺陷
6.1.1 現有方案
6.1.2 主要缺陷
6.2 解決的技術問題
6.3 提供的技術方案
6.3.1 結構
6.3.2 原理
6.3.3 優點
6.3.4 具體步驟
▌第7章 應用sequence 回饋機制的激勵控制方法
7.1 背景技術方案及缺陷
7.1.1 現有方案
7.1.2 主要缺陷
7.2 解決的技術問題
7.3 提供的技術方案
7.3.1 結構
7.3.2 原理
7.3.3 優點
7.3.4 具體步驟
▌第8章 應用uvm_tlm_analysis_fifo 的激勵控制方法
8.1 背景技術方案及缺陷
8.1.1 現有方案
8.1.2 主要缺陷
8.2 解決的技術問題
8.3 提供的技術方案
8.3.1 結構
8.3.2 原理
8.3.3 優點
8.3.4 具體步驟
▌第9章 快速建立DUT 替代模型的記分板標準方法
9.1 背景技術方案及缺陷
9.1.1 現有方案
9.1.2 主要缺陷
9.2 解決的技術問題
9.3 提供的技術方案
9.3.1 結構
9.3.2 原理
9.3.3 優點
9.3.4 具體步驟
▌第10章 支援亂序比較的記分板的快速實現方法
10.1 背景技術方案及缺陷
10.1.1 現有方案
10.1.2 主要缺陷
10.2 解決的技術問題
10.3 提供的技術方案
10.3.1 結構
10.3.2 原理
10.3.3 優點
10.3.4 具體步驟
▌第11章 對固定延遲輸出結果的RTL 介面訊號的monitor 的簡便方法
11.1 背景技術方案及缺陷
11.1.1 現有方案
11.1.2 主要缺陷
11.2 解決的技術問題
11.3 提供的技術方案
11.3.1 結構
11.3.2 原理
11.3.3 優點
11.3.4 具體步驟
▌第12章 監測和控制DUT 內部訊號的方法
12.1 背景技術方案及缺陷
12.1.1 現有方案
12.1.2 主要缺陷
12.2 解決的技術問題
12.3 提供的技術方案
12.3.1 結構
12.3.2 原理
12.3.3 優點
12.3.4 具體步驟
▌第13章 向UVM 驗證環境中傳遞設計參數的方法
13.1 背景技術方案及缺陷
13.1.1 現有方案
13.1.2 主要缺陷
13.2 解決的技術問題
13.3 提供的技術方案
13.3.1 結構
13.3.2 原理
13.3.3 優點
13.3.4 具體步驟
▌第14章 對設計與驗證平臺連接整合的改進方法
14.1 背景技術方案及缺陷
14.1.1 現有方案
14.1.2 主要缺陷
14.2 解決的技術問題
14.3 提供的技術方案
14.3.1 結構
14.3.2 原理
14.3.3 優點
14.3.4 具體步驟
▌第15章 應用於路由類別模組設計的transaction 偵錯追蹤和控制的方法
15.1 背景技術方案及缺陷
15.1.1 現有方案
15.1.2 主要缺陷
15.2 解決的技術問題
15.3 提供的技術方案
15.3.1 結構
15.3.2 原理
15.3.3 優點
15.3.4 具體步驟
▌第16章 使用UVM sequence item 對包含layered protocol 的RTL 設計進行驗證的簡便方法
16.1 背景技術方案及缺陷
16.1.1 現有方案
16.1.2 主要缺陷
16.2 解決的技術問題
16.3 提供的技術方案
16.3.1 結構
16.3.2 原理
16.3.3 優點
16.3.4 具體步驟
▌第17章 應用於VIP 的存取者模式方法
17.1 背景技術方案及缺陷
17.1.1 現有方案
17.1.2 主要缺陷
17.2 解決的技術問題
17.3 提供的技術方案
17.3.1 結構
17.3.2 原理
17.3.3 優點
17.3.4 具體步驟
▌第18章 設置UVM 目標phase 的額外等待時間的方法
18.1 背景技術方案及缺陷
18.1.1 現有方案
18.1.2 主要缺陷
18.2 解決的技術問題
18.3 提供的技術方案
18.3.1 結構
18.3.2 原理
18.3.3 優點
18.3.4 具體步驟
▌第19章 基於UVM 驗證平臺的模擬結束機制
19.1 背景技術方案及缺陷
19.1.1 現有方案
19.1.2 主要缺陷
19.2 解決的技術問題
19.3 提供的技術方案
19.3.1 結構
19.3.2 原理
19.3.3 優點
19.3.4 具體步驟
▌第20章 記分板和斷言檢查相結合的驗證方法
20.1 背景技術方案及缺陷
20.1.1 現有方案
20.1.2 主要缺陷
20.2 解決的技術問題
20.3 提供的技術方案
20.3.1 結構
20.3.2 原理
20.3.3 優點
20.3.4 具體步驟
▌第21章 支援錯誤注入驗證測試的驗證平臺
21.1 背景技術方案及缺陷
21.1.1 現有方案
21.1.2 主要缺陷
21.2 解決的技術問題
21.3 提供的技術方案
21.3.1 結構
21.3.2 原理
21.3.3 優點
21.3.4 具體步驟
▌第22章 一種基於bind 的ECC 儲存注錯測試方法
22.1 背景技術方案及缺陷
22.1.1 現有方案
22.1.2 主要缺陷
22.2 解決的技術問題
22.3 提供的技術方案
22.3.1 結構
22.3.2 原理
22.3.3 優點
22.3.4 具體步驟
▌第23章 在驗證環境中更優的列舉型態變數的宣告使用方法
23.1 背景技術方案及缺陷
23.1.1 現有方案
23.1.2 主要缺陷
23.2 解決的技術問題
23.3 提供的技術方案
23.3.1 結構
23.3.2 原理
23.3.3 優點
23.3.4 具體步驟
▌第24章 基於UVM 方法學的SVA 封裝方法
24.1 背景技術方案及缺陷
24.1.1 現有方案
24.1.2 主要缺陷
24.2 解決的技術問題
24.3 提供的技術方案
24.3.1 結構
24.3.2 原理
24.3.3 優點
24.3.4 具體步驟
▌第25章 增強對SVA 偵錯和控制的方法
25.1 背景技術方案及缺陷
25.1.1 現有方案
25.1.2 主要缺陷
25.2 解決的技術問題
25.3 提供的技術方案
25.3.1 結構
25.3.2 原理
25.3.3 優點
25.3.4 具體步驟
▌第26章 針對晶片重置測試場景下的驗證框架
26.1 背景技術方案及缺陷
26.1.1 現有方案
26.1.2 主要缺陷
26.2 解決的技術問題
26.3 提供的技術方案
26.3.1 結構
26.3.2 原理
26.3.3 優點
26.3.4 具體步驟
▌第27章 採用事件觸發的晶片重置測試方法
27.1 背景技術方案及缺陷
27.1.1 現有方案
27.1.2 主要缺陷
27.2 解決的技術問題
27.3 提供的技術方案
27.3.1 結構
27.3.2 原理
27.3.3 優點
27.3.4 具體步驟
▌第28章 支援多空間域的晶片重置測試方法
28.1 背景技術方案及缺陷
28.1.1 現有方案
28.1.2 主要缺陷
28.2 解決的技術問題
28.3 提供的技術方案
28.3.1 結構
28.3.2 原理
28.3.3 優點
28.3.4 具體步驟
▌第29章 對參數化類別的壓縮處理技術
29.1 背景技術方案及缺陷
29.1.1 現有方案
29.1.2 主要缺陷
29.2 解決的技術問題
29.3 提供的技術方案
29.3.1 結構
29.3.2 原理
29.3.3 優點
29.3.4 具體步驟
▌第30章 基於UVM 的中斷處理技術
30.1 背景技術方案及缺陷
30.1.1 現有方案
30.1.2 主要缺陷
30.2 解決的技術問題
30.3 提供的技術方案
30.3.1 結構
30.3.2 原理
30.3.3 優點
30.3.4 具體步驟
▌第31章 實現覆蓋率收集程式重用的方法
31.1 背景技術方案及缺陷
31.1.1 現有方案
31.1.2 主要缺陷
31.2 解決的技術問題
31.3 提供的技術方案
31.3.1 結構
31.3.2 原理
31.3.3 優點
31.3.4 具體步驟
▌第32章 對實現覆蓋率收集程式重用方法的改進
32.1 背景技術方案及缺陷
32.1.1 現有方案
32.1.2 主要缺陷
32.2 解決的技術問題
32.3 提供的技術方案
32.3.1 結構
32.3.2 原理
32.3.3 優點
32.3.4 具體步驟
▌第33章 針對相互依賴的成員變數的隨機約束方法
33.1 背景技術方案及缺陷
33.1.1 現有方案
33.1.2 主要缺陷
33.2 解決的技術問題
33.3 提供的技術方案
33.3.1 結構
33.3.2 原理
33.3.3 優點
33.3.4 具體步驟
▌第34章 對隨機約束區塊的控制管理及重用的方法
34.1 背景技術方案及缺陷
34.1.1 現有方案
34.1.2 主要缺陷
34.2 解決的技術問題
34.3 提供的技術方案
34.3.1 結構
34.3.2 原理
34.3.3 優點
34.3.4 具體步驟
▌第35章 隨機約束和覆蓋組同步技術
35.1 背景技術方案及缺陷
35.1.1 現有方案
35.1.2 主要缺陷
35.2 解決的技術問題
35.3 提供的技術方案
35.3.1 結構
35.3.2 原理
35.3.3 優點
35.3.4 具體步驟
▌第36章 在隨機約束物件中實現多重繼承的方法
36.1 背景技術方案及缺陷
36.1.1 現有方案
36.1.2 主要缺陷
36.2 解決的技術問題
36.3 提供的技術方案
36.3.1 結構
36.3.2 原理
36.3.3 優點
36.3.4 具體步驟
▌第37章 支援動態位址映射的暫存器建模方法
37.1 背景技術方案及缺陷
37.1.1 現有方案
37.1.2 主要缺陷
37.2 解決的技術問題
37.3 提供的技術方案
37.3.1 結構
37.3.2 原理
37.3.3 優點
37.3.4 具體步驟
▌第38章 對暫存器突發存取的建模方法
38.1 背景技術方案及缺陷
38.1.1 現有方案
38.1.2 主要缺陷
38.2 解決的技術問題
38.3 提供的技術方案
38.3.1 結構
38.3.2 原理
38.3.3 優點
38.3.4 具體步驟
▌第39章 基於UVM 儲存模型的暫存器突發存取的建模方法
39.1 背景技術方案及缺陷
39.1.1 現有方案
39.1.2 主要缺陷
39.2 解決的技術問題
39.3 提供的技術方案
39.3.2 原理
39.3.3 優點
39.3.4 具體步驟
▌第40章 暫存器間接存取的驗證模型實現框架
40.1 背景技術方案及缺陷
40.1.1 現有方案
40.1.2 主要缺陷
40.2 解決的技術問題
40.3 提供的技術方案
40.3.1 結構
40.3.2 原理
40.3.3 優點
40.3.4 具體步驟
▌第41章 基於UVM 的儲存建模最佳化方法
41.1 背景技術方案及缺陷
41.1.1 現有方案
41.1.2 主要缺陷
41.2 解決的技術問題
41.3 提供的技術方案
41.3.1 結構
41.3.2 原理
41.3.3 優點
41.3.4 具體步驟
▌第42章 對片上儲存空間動態管理的方法
42.1 背景技術方案及缺陷
42.1.1 現有方案
42.1.2 主要缺陷
42.2 解決的技術問題
42.3 提供的技術方案
42.3.1 結構
42.3.2 原理
42.3.3 優點
42.3.4 具體步驟
42.3.5 演算法性能測試
42.3.6 備註
▌第43章 簡便且靈活的暫存器覆蓋率統計收集方法
43.1 背景技術方案及缺陷
43.1.1 現有方案
43.1.2 主要缺陷
43.2 解決的技術問題
43.3 提供的技術方案
43.3.1 結構
43.3.2 原理
43.3.3 優點
43.3.4 具體步驟
▌第44章 模擬真實環境下的暫存器重配置的方法
44.1 背景技術方案及缺陷
44.1.1 現有方案
44.1.2 主要缺陷
44.2 解決的技術問題
44.3 提供的技術方案
44.3.1 結構
44.3.2 原理
44.3.3 優點
44.3.4 具體步驟
▌第45章 使用C 語言對UVM 環境中暫存器的讀寫存取方法
45.1 背景技術方案及缺陷
45.1.1 現有方案
45.1.2 主要缺陷
45.2 解決的技術問題
45.3 提供的技術方案
45.3.1 結構
45.3.2 原理
45.3.3 優點
45.3.4 具體步驟
▌第46章 提高對暫存器模型建模程式可讀性的方法
46.1 背景技術方案及缺陷
46.1.1 現有方案
46.1.2 主要缺陷
46.2 解決的技術問題
46.3 提供的技術方案
46.3.1 結構
46.3.2 原理
46.3.3 優點
46.3.4 具體步驟
▌第47章 相容UVM 的供應商儲存IP 的後門存取方法
47.1 背景技術方案及缺陷
47.1.1 現有方案
47.1.2 主要缺陷
47.2 解決的技術問題
47.3 提供的技術方案
47.3.1 結構
47.3.2 原理
47.3.3 優點
47.3.4 具體步驟
47.3.5 備註
▌第48章 應用於晶片領域的程式倉庫管理方法
48.1 背景技術方案及缺陷
48.1.1 現有方案
48.1.2 主要缺陷
48.2 解決的技術問題
48.3 提供的技術方案
48.3.1 結構
48.3.2 原理
48.3.3 優點
48.3.4 具體步驟
▌第49章 DPI 多執行緒模擬加速技術
49.1 背景技術方案及缺陷
49.1.1 現有方案
49.1.2 主要缺陷
49.2 解決的技術問題
49.3 提供的技術方案
49.3.1 結構
49.3.2 原理
49.3.3 優點
49.3.4 具體步驟
▌第50章 基於UVM 驗證平臺的硬體模擬加速技術
50.1 背景技術方案及缺陷
50.1.1 現有方案
50.1.2 主要缺陷
50.2 解決的技術問題
50.3 提供的技術方案
50.3.1 結構
50.3.2 原理
50.3.3 優點
50.3.4 具體步驟
1.1 背景技術方案及缺陷
1.1.1 現有方案
1.1.2 主要缺陷
1.2 解決的技術問題
1.3 提供的技術方案
1.3.1 結構
1.3.2 原理
1.3.3 優點
1.3.4 具體步驟
▌第2章 interface 快速宣告、連接和配置傳遞的方法
2.1 背景技術方案及缺陷
2.1.1 現有方案
2.1.2 主要缺陷
2.2 解決的技術問題
2.3 提供的技術方案
2.3.1 結構
2.3.2 原理
2.3.3 優點
2.3.4 具體步驟
▌第3章 在可重用驗證環境中連接interface 的方法
3.1 背景技術方案及缺陷
3.1.1 現有方案
3.1.2 主要缺陷
3.2 解決的技術問題
3.3 提供的技術方案
3.3.1 結構
3.3.2 原理
3.3.3 優點
3.3.4 具體步驟
▌第4章 支援結構通訊埠資料型態的連接interface 的方法
4.1 背景技術方案及缺陷
4.1.1 現有方案
4.1.2 主要缺陷
4.2 解決的技術問題
4.3 提供的技術方案
4.3.1 結構
4.3.2 原理
4.3.3 優點
4.3.4 具體步驟
▌第5章 快速配置和傳遞驗證環境中配置物件的方法
5.1 背景技術方案及缺陷
5.1.1 現有方案
5.1.2 主要缺陷
5.2 解決的技術問題
5.3 提供的技術方案
5.3.1 結構
5.3.2 原理
5.3.3 優點
5.3.4 具體步驟
▌第6章 對採用reactive slave 方式驗證的改進方法
6.1 背景技術方案及缺陷
6.1.1 現有方案
6.1.2 主要缺陷
6.2 解決的技術問題
6.3 提供的技術方案
6.3.1 結構
6.3.2 原理
6.3.3 優點
6.3.4 具體步驟
▌第7章 應用sequence 回饋機制的激勵控制方法
7.1 背景技術方案及缺陷
7.1.1 現有方案
7.1.2 主要缺陷
7.2 解決的技術問題
7.3 提供的技術方案
7.3.1 結構
7.3.2 原理
7.3.3 優點
7.3.4 具體步驟
▌第8章 應用uvm_tlm_analysis_fifo 的激勵控制方法
8.1 背景技術方案及缺陷
8.1.1 現有方案
8.1.2 主要缺陷
8.2 解決的技術問題
8.3 提供的技術方案
8.3.1 結構
8.3.2 原理
8.3.3 優點
8.3.4 具體步驟
▌第9章 快速建立DUT 替代模型的記分板標準方法
9.1 背景技術方案及缺陷
9.1.1 現有方案
9.1.2 主要缺陷
9.2 解決的技術問題
9.3 提供的技術方案
9.3.1 結構
9.3.2 原理
9.3.3 優點
9.3.4 具體步驟
▌第10章 支援亂序比較的記分板的快速實現方法
10.1 背景技術方案及缺陷
10.1.1 現有方案
10.1.2 主要缺陷
10.2 解決的技術問題
10.3 提供的技術方案
10.3.1 結構
10.3.2 原理
10.3.3 優點
10.3.4 具體步驟
▌第11章 對固定延遲輸出結果的RTL 介面訊號的monitor 的簡便方法
11.1 背景技術方案及缺陷
11.1.1 現有方案
11.1.2 主要缺陷
11.2 解決的技術問題
11.3 提供的技術方案
11.3.1 結構
11.3.2 原理
11.3.3 優點
11.3.4 具體步驟
▌第12章 監測和控制DUT 內部訊號的方法
12.1 背景技術方案及缺陷
12.1.1 現有方案
12.1.2 主要缺陷
12.2 解決的技術問題
12.3 提供的技術方案
12.3.1 結構
12.3.2 原理
12.3.3 優點
12.3.4 具體步驟
▌第13章 向UVM 驗證環境中傳遞設計參數的方法
13.1 背景技術方案及缺陷
13.1.1 現有方案
13.1.2 主要缺陷
13.2 解決的技術問題
13.3 提供的技術方案
13.3.1 結構
13.3.2 原理
13.3.3 優點
13.3.4 具體步驟
▌第14章 對設計與驗證平臺連接整合的改進方法
14.1 背景技術方案及缺陷
14.1.1 現有方案
14.1.2 主要缺陷
14.2 解決的技術問題
14.3 提供的技術方案
14.3.1 結構
14.3.2 原理
14.3.3 優點
14.3.4 具體步驟
▌第15章 應用於路由類別模組設計的transaction 偵錯追蹤和控制的方法
15.1 背景技術方案及缺陷
15.1.1 現有方案
15.1.2 主要缺陷
15.2 解決的技術問題
15.3 提供的技術方案
15.3.1 結構
15.3.2 原理
15.3.3 優點
15.3.4 具體步驟
▌第16章 使用UVM sequence item 對包含layered protocol 的RTL 設計進行驗證的簡便方法
16.1 背景技術方案及缺陷
16.1.1 現有方案
16.1.2 主要缺陷
16.2 解決的技術問題
16.3 提供的技術方案
16.3.1 結構
16.3.2 原理
16.3.3 優點
16.3.4 具體步驟
▌第17章 應用於VIP 的存取者模式方法
17.1 背景技術方案及缺陷
17.1.1 現有方案
17.1.2 主要缺陷
17.2 解決的技術問題
17.3 提供的技術方案
17.3.1 結構
17.3.2 原理
17.3.3 優點
17.3.4 具體步驟
▌第18章 設置UVM 目標phase 的額外等待時間的方法
18.1 背景技術方案及缺陷
18.1.1 現有方案
18.1.2 主要缺陷
18.2 解決的技術問題
18.3 提供的技術方案
18.3.1 結構
18.3.2 原理
18.3.3 優點
18.3.4 具體步驟
▌第19章 基於UVM 驗證平臺的模擬結束機制
19.1 背景技術方案及缺陷
19.1.1 現有方案
19.1.2 主要缺陷
19.2 解決的技術問題
19.3 提供的技術方案
19.3.1 結構
19.3.2 原理
19.3.3 優點
19.3.4 具體步驟
▌第20章 記分板和斷言檢查相結合的驗證方法
20.1 背景技術方案及缺陷
20.1.1 現有方案
20.1.2 主要缺陷
20.2 解決的技術問題
20.3 提供的技術方案
20.3.1 結構
20.3.2 原理
20.3.3 優點
20.3.4 具體步驟
▌第21章 支援錯誤注入驗證測試的驗證平臺
21.1 背景技術方案及缺陷
21.1.1 現有方案
21.1.2 主要缺陷
21.2 解決的技術問題
21.3 提供的技術方案
21.3.1 結構
21.3.2 原理
21.3.3 優點
21.3.4 具體步驟
▌第22章 一種基於bind 的ECC 儲存注錯測試方法
22.1 背景技術方案及缺陷
22.1.1 現有方案
22.1.2 主要缺陷
22.2 解決的技術問題
22.3 提供的技術方案
22.3.1 結構
22.3.2 原理
22.3.3 優點
22.3.4 具體步驟
▌第23章 在驗證環境中更優的列舉型態變數的宣告使用方法
23.1 背景技術方案及缺陷
23.1.1 現有方案
23.1.2 主要缺陷
23.2 解決的技術問題
23.3 提供的技術方案
23.3.1 結構
23.3.2 原理
23.3.3 優點
23.3.4 具體步驟
▌第24章 基於UVM 方法學的SVA 封裝方法
24.1 背景技術方案及缺陷
24.1.1 現有方案
24.1.2 主要缺陷
24.2 解決的技術問題
24.3 提供的技術方案
24.3.1 結構
24.3.2 原理
24.3.3 優點
24.3.4 具體步驟
▌第25章 增強對SVA 偵錯和控制的方法
25.1 背景技術方案及缺陷
25.1.1 現有方案
25.1.2 主要缺陷
25.2 解決的技術問題
25.3 提供的技術方案
25.3.1 結構
25.3.2 原理
25.3.3 優點
25.3.4 具體步驟
▌第26章 針對晶片重置測試場景下的驗證框架
26.1 背景技術方案及缺陷
26.1.1 現有方案
26.1.2 主要缺陷
26.2 解決的技術問題
26.3 提供的技術方案
26.3.1 結構
26.3.2 原理
26.3.3 優點
26.3.4 具體步驟
▌第27章 採用事件觸發的晶片重置測試方法
27.1 背景技術方案及缺陷
27.1.1 現有方案
27.1.2 主要缺陷
27.2 解決的技術問題
27.3 提供的技術方案
27.3.1 結構
27.3.2 原理
27.3.3 優點
27.3.4 具體步驟
▌第28章 支援多空間域的晶片重置測試方法
28.1 背景技術方案及缺陷
28.1.1 現有方案
28.1.2 主要缺陷
28.2 解決的技術問題
28.3 提供的技術方案
28.3.1 結構
28.3.2 原理
28.3.3 優點
28.3.4 具體步驟
▌第29章 對參數化類別的壓縮處理技術
29.1 背景技術方案及缺陷
29.1.1 現有方案
29.1.2 主要缺陷
29.2 解決的技術問題
29.3 提供的技術方案
29.3.1 結構
29.3.2 原理
29.3.3 優點
29.3.4 具體步驟
▌第30章 基於UVM 的中斷處理技術
30.1 背景技術方案及缺陷
30.1.1 現有方案
30.1.2 主要缺陷
30.2 解決的技術問題
30.3 提供的技術方案
30.3.1 結構
30.3.2 原理
30.3.3 優點
30.3.4 具體步驟
▌第31章 實現覆蓋率收集程式重用的方法
31.1 背景技術方案及缺陷
31.1.1 現有方案
31.1.2 主要缺陷
31.2 解決的技術問題
31.3 提供的技術方案
31.3.1 結構
31.3.2 原理
31.3.3 優點
31.3.4 具體步驟
▌第32章 對實現覆蓋率收集程式重用方法的改進
32.1 背景技術方案及缺陷
32.1.1 現有方案
32.1.2 主要缺陷
32.2 解決的技術問題
32.3 提供的技術方案
32.3.1 結構
32.3.2 原理
32.3.3 優點
32.3.4 具體步驟
▌第33章 針對相互依賴的成員變數的隨機約束方法
33.1 背景技術方案及缺陷
33.1.1 現有方案
33.1.2 主要缺陷
33.2 解決的技術問題
33.3 提供的技術方案
33.3.1 結構
33.3.2 原理
33.3.3 優點
33.3.4 具體步驟
▌第34章 對隨機約束區塊的控制管理及重用的方法
34.1 背景技術方案及缺陷
34.1.1 現有方案
34.1.2 主要缺陷
34.2 解決的技術問題
34.3 提供的技術方案
34.3.1 結構
34.3.2 原理
34.3.3 優點
34.3.4 具體步驟
▌第35章 隨機約束和覆蓋組同步技術
35.1 背景技術方案及缺陷
35.1.1 現有方案
35.1.2 主要缺陷
35.2 解決的技術問題
35.3 提供的技術方案
35.3.1 結構
35.3.2 原理
35.3.3 優點
35.3.4 具體步驟
▌第36章 在隨機約束物件中實現多重繼承的方法
36.1 背景技術方案及缺陷
36.1.1 現有方案
36.1.2 主要缺陷
36.2 解決的技術問題
36.3 提供的技術方案
36.3.1 結構
36.3.2 原理
36.3.3 優點
36.3.4 具體步驟
▌第37章 支援動態位址映射的暫存器建模方法
37.1 背景技術方案及缺陷
37.1.1 現有方案
37.1.2 主要缺陷
37.2 解決的技術問題
37.3 提供的技術方案
37.3.1 結構
37.3.2 原理
37.3.3 優點
37.3.4 具體步驟
▌第38章 對暫存器突發存取的建模方法
38.1 背景技術方案及缺陷
38.1.1 現有方案
38.1.2 主要缺陷
38.2 解決的技術問題
38.3 提供的技術方案
38.3.1 結構
38.3.2 原理
38.3.3 優點
38.3.4 具體步驟
▌第39章 基於UVM 儲存模型的暫存器突發存取的建模方法
39.1 背景技術方案及缺陷
39.1.1 現有方案
39.1.2 主要缺陷
39.2 解決的技術問題
39.3 提供的技術方案
39.3.2 原理
39.3.3 優點
39.3.4 具體步驟
▌第40章 暫存器間接存取的驗證模型實現框架
40.1 背景技術方案及缺陷
40.1.1 現有方案
40.1.2 主要缺陷
40.2 解決的技術問題
40.3 提供的技術方案
40.3.1 結構
40.3.2 原理
40.3.3 優點
40.3.4 具體步驟
▌第41章 基於UVM 的儲存建模最佳化方法
41.1 背景技術方案及缺陷
41.1.1 現有方案
41.1.2 主要缺陷
41.2 解決的技術問題
41.3 提供的技術方案
41.3.1 結構
41.3.2 原理
41.3.3 優點
41.3.4 具體步驟
▌第42章 對片上儲存空間動態管理的方法
42.1 背景技術方案及缺陷
42.1.1 現有方案
42.1.2 主要缺陷
42.2 解決的技術問題
42.3 提供的技術方案
42.3.1 結構
42.3.2 原理
42.3.3 優點
42.3.4 具體步驟
42.3.5 演算法性能測試
42.3.6 備註
▌第43章 簡便且靈活的暫存器覆蓋率統計收集方法
43.1 背景技術方案及缺陷
43.1.1 現有方案
43.1.2 主要缺陷
43.2 解決的技術問題
43.3 提供的技術方案
43.3.1 結構
43.3.2 原理
43.3.3 優點
43.3.4 具體步驟
▌第44章 模擬真實環境下的暫存器重配置的方法
44.1 背景技術方案及缺陷
44.1.1 現有方案
44.1.2 主要缺陷
44.2 解決的技術問題
44.3 提供的技術方案
44.3.1 結構
44.3.2 原理
44.3.3 優點
44.3.4 具體步驟
▌第45章 使用C 語言對UVM 環境中暫存器的讀寫存取方法
45.1 背景技術方案及缺陷
45.1.1 現有方案
45.1.2 主要缺陷
45.2 解決的技術問題
45.3 提供的技術方案
45.3.1 結構
45.3.2 原理
45.3.3 優點
45.3.4 具體步驟
▌第46章 提高對暫存器模型建模程式可讀性的方法
46.1 背景技術方案及缺陷
46.1.1 現有方案
46.1.2 主要缺陷
46.2 解決的技術問題
46.3 提供的技術方案
46.3.1 結構
46.3.2 原理
46.3.3 優點
46.3.4 具體步驟
▌第47章 相容UVM 的供應商儲存IP 的後門存取方法
47.1 背景技術方案及缺陷
47.1.1 現有方案
47.1.2 主要缺陷
47.2 解決的技術問題
47.3 提供的技術方案
47.3.1 結構
47.3.2 原理
47.3.3 優點
47.3.4 具體步驟
47.3.5 備註
▌第48章 應用於晶片領域的程式倉庫管理方法
48.1 背景技術方案及缺陷
48.1.1 現有方案
48.1.2 主要缺陷
48.2 解決的技術問題
48.3 提供的技術方案
48.3.1 結構
48.3.2 原理
48.3.3 優點
48.3.4 具體步驟
▌第49章 DPI 多執行緒模擬加速技術
49.1 背景技術方案及缺陷
49.1.1 現有方案
49.1.2 主要缺陷
49.2 解決的技術問題
49.3 提供的技術方案
49.3.1 結構
49.3.2 原理
49.3.3 優點
49.3.4 具體步驟
▌第50章 基於UVM 驗證平臺的硬體模擬加速技術
50.1 背景技術方案及缺陷
50.1.1 現有方案
50.1.2 主要缺陷
50.2 解決的技術問題
50.3 提供的技術方案
50.3.1 結構
50.3.2 原理
50.3.3 優點
50.3.4 具體步驟
規格
誠品貨碼 / 2682944962002
ISBN13 / 9786267757093
ISBN10 /
EAN貨碼 / 9786267757093
頁數 / 568
裝訂 / P:平裝
語言 / 1:中文/繁體
尺寸 / 17X23X2.78CM
級別 / N:無
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- 食品、美容/保養用品、內衣褲等消耗性或個人衛生用品、商品銷售頁面上特別載明之商品已拆封者(除運送用之包裝外一切包裝、包括但不限於瓶蓋、封口、封膜等接觸商品內容之包裝部分)或已非全新狀態(外觀有刮傷、破損、受潮等)與包裝不完整(缺少商品、附件、原廠外盒、保護袋、配件紙箱、保麗龍、隨貨文件、贈品等)。
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