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發明專利實體審查基準 一: 國際法規與案例彙編 (第2版)

發明專利實體審查基準 一: 國際法規與案例彙編 (第2版)
Guidelines for Substantive Examination of Invention Patent (1)-Compilation of International Regulations and Case Studies


作者  /  張仁平

出版社 / 經濟部智慧財產局

出版日期 / 2010/03/01

商品語言 / 中文/繁體

裝訂 / 平裝

定價 / NT$350

售價 / 9折, NT$ 315

※ 無庫存


發明專利實體審查基準 一: 國際法規與案例彙編 (第2版) 其它優惠/消息


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內容簡介

本教材乃依序說明專利審查基準「第一章說明書及圖式」、「第二章何謂發明」、「第三章專利要件」之國際相關法令規範與案例,其內容主要係依據智慧財產局二○○四年七月一日公告之「專利審查基準」第二篇發明專利實體審查第一章至第三章之相關內容,列舉主要國家、專利組織及國際條約之相關法令規範,包括我國、日本、大陸、歐洲專利條約(EPC)、美國、實質專利法條約(SPLT)草案、與貿易有關之智慧財產權協定(TRIPs)與專利合作條約(PCT)等,以供比較參考,並於各章節編列相關案例,詳加解說,有助於瞭解專利審查基準之相關規範。







詳細資料

誠品26碼 /2680560831009
ISBN 13 /9789860213881
ISBN 10 /9860213887
EAN /9789860213881

頁數316
開數25K
裝訂平裝
級別
語言中文/繁體
成份


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