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作者書籍
觀微探幽X射線與顯微術

觀微探幽X射線與顯微術


作者  /  鄭仁蓉/朱順泉

出版社 / 世潮出版有限公司

出版日期 / 2002/01/01

商品語言 / 中文/繁體

裝訂 / 平裝

定價 / NT$170

售價 / 9折, NT$ 153

※ 無法訂購


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詳細資料

誠品26碼 /2611284461005
ISBN 13 /9789577763150
ISBN 10 /9577763154
EAN /9789577763150

頁數160
裝訂平裝
級別
語言中文/繁體


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