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商品訊息
作者書籍
專利審查基準及實務 上: 程序、發明Ⅰ篇

專利審查基準及實務 上: 程序、發明Ⅰ篇


作者  /  張仁平

出版社 / 元照出版有限公司

出版日期 / 2014/01/01

商品語言 / 中文/繁體

裝訂 / 平裝

定價 / NT$600

售價 / NT$ 600 ※ 特價商品,不再折扣

※ 無庫存


專利審查基準及實務 上: 程序、發明Ⅰ篇 其它優惠/消息


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內容簡介

本書分為上下兩冊,包括程序、發明、設計、新型及舉發等五篇,其中彙整案例超過250則,考題超過1000題。上冊為「程序審查及專利權管理篇」及「發明專利實體審查篇」最重要之第一至第三章等,內容充實深入,完整詮釋專利審查基準及實務。

本書適用對象廣泛,舉凡專利審查人員審案及訓練之參考、從業者(事務所之專利師及專利工程師、專利代理人及專利工程師、企業之智權及法務人員)申請專利之實務及研究參考、有志從事專利工作者之入門及應試參考(專門職業及技術人員高考專利師考試、智慧財產人員能力認證考試)等,皆可各取所需。







詳細資料

誠品26碼 /2680842725002
ISBN 13 /9789862553817
ISBN 10 /9862553812
EAN /9789862553817

頁數632
開數20K
裝訂平裝
級別
語言中文/繁體
成份


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