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專利審查基準及實務 下

專利審查基準及實務 下


作者  /  張仁平

出版社 / 元照出版有限公司

出版日期 / 2012/01/18

商品語言 / 中文/繁體

裝訂 / 平裝

定價 / NT$480

售價 / 9折, NT$ 432

※ 已絕版


專利審查基準及實務 下 其它優惠/消息


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內容簡介

【收錄最新修正專利法】
【法規、基準、案例、試題四合一】
【專利審查官、專利師、專利代理人、專利工程師參考用書】
【專利師高考、智慧財產人員能力認證、專利審查官特考考試用書】


本書結合國際法規、審查基準、重要案例及歷屆考題等四大部分,完整詮釋專利審查基準及實務,包括程序、發明、新式樣、新型及舉發等五篇,分為上下兩冊。

下冊內容為發明專利實體審查篇之第四至八章、新式樣專利實體審查篇、新型專利形式審查及技術報告篇、舉發及依職權審查篇等;其中彙整案例共244則,考題達1063題,內容充實深入。

本書適用對象廣泛,舉凡專利審查人員審案及訓練之參考、從業者(事務所之專利師及專利工程師、專利代理人及專利工程師、企業之智權及法務人員)申請專利之實務及研究參考、有志從事專利工作者之入門及應試參考(專門職業及技術人員高考專利師考試、智慧財產人員能力認證考試、專利審查官特考)等,皆可各取所需。







詳細資料

誠品26碼 /2680659972002
ISBN 13 /9789862551912
ISBN 10 /9862551917
EAN /9789862551912

頁數444
開數20K
裝訂平裝
級別
語言中文/繁體


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